ИНФОРМАЦИОННЫЙ БЮЛЛЕТЕНЬ "КНИГИ" N 31/32      16.08.99,23.08.99





          ФИЗИКА   
     
    290. Совещание по ускорителям заряженных частиц: Труды XVI 
совещания по ...,Протвино,20-22 октября 1998. Т.1.  - 
Протвино:ИФВЭ,1999.-  250с.:илл.     
     
    291. Совещание по ускорителям заряженных частиц: Труды совещания 
по...,Протвино,20-22 октября 1998. Т.2.  - Протвино:ИФВЭ,1999.-  
252с.:илл.     
     
    292. CP Violation in K: Proc. of the International Workshop 
on...,Tokyo,Japan, 18-19 December 1998.  - Tokyo:KEK,1999.-  
271p.:il.  -  (KEK Proceedings 99-3. Tanashi-K 99-1.).     
     
    293. Giant Resonances (GR 98): Proc. of the Sixth International 
Topical Conference on Giant Resonances, Varenna,Italy, 11-16 May 
1998.  - Amsterdam etc.: Elsevier,1999.-  463p.:il.  -  (Nuclear 
Physics A, 1999, Vol.A649.).     
     
    294. International Seminar on High Energy Physics and 
Thermonuclear Research: Proc. 3rd Intern.Seminar on... 
,Novosibirsk,Russia, May 11-15,1998./Editor:V.N.Baier.  - 
Novosibirsk:BINP,1998.-  206 p.  -  (Budker 80th Anniversary, 
Institute of Nuclear Physics 40th Anniversary.).     
     
    295. Ionizing Radiation and Polymers: Proc.of the Third 
Intern.Symposium on... (IRaP'98),Weinbohla,Germany,19-24 September 
1998.  - Amsterdam etc.:North-Holland,1999.-  484p.:il.  -  (Nuclear 
Instruments & Methods in Physics Research, Section B,1999, Vol.151, 
N.1-4.).     
     
    296. Mesons and Light Nuclei '98: Proc. of the 7th Conference 
...,Prague-Pruhonice,Czech Republic, 31 August- 4 September 1998.  - 
Singapore etc.: World Sci.,1998.-  517p.:il.     
     
    297. X-ray Second-order Photo-excitation Process.Current Status 
and Future Development,KEK,Tsukuba,Japan,December 17-18,1998. 
/Edited by T.Jo,S.Shin,K.Nasu,M.Watanabe.  - Tsukuba:KEK,1999.-  314 
p.  -  (KEK Proceedings 98-15.).     
     
          АВТОМАТИКА. ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА. КИБЕРНЕТИКА. 
РАДИОЭЛЕКТРОНИКА   
     
    298. High-Dimensional Empirical Linear Prediction (HELP) 
Toolbox. Users's Guide, Version 2.2.  - Washington,1999.-  54p.:il.  
-  (NIST Technical Note 1428.).